我們提供專業的 AMAT SEMVision G3/G4 300mm 高解析電子束缺陷檢測系統翻新服務。該系統用於先進製程控制，專為300毫米晶圓製造設計，SEMVision 平台能提供自動缺陷分類（ADC）、精準缺陷定位及高通量檢測。非常適合前段製程（FEOL）與後段製程（BEOL）的製程監控，能夠實現根本原因分析及良率提升，將光學檢測與電子束級別細節完美銜接。我們的服務確保系統完全恢復，達到高效能晶圓廠運作標準。