METROTOM 1
由外而內的品質控管
一次掃描，深入洞察。
快速、直覺、高精度
ZEISS METROTOM 1 是您邁向高效率的捷徑：無需任何零件前處理，即可精確擷取 3D 數據。透過電腦斷層掃描技術，您可以非破壞性地掃描零件並查看其內部結構。用於量測、分析及檢測隱藏缺陷與內部構造。搭配 ZEISS INSPECT 軟體，更將品質控管提升至全新層次，簡化整個檢測流程。
一套精巧、易於操作的系統，為您的工作捕捉所需數據
這套操作簡單的系統，讓各類使用者都能輕鬆啟動量測流程並擷取精確數據。METROTOM 1 具備精巧的體積設計，輕鬆融入您的工作空間。只需按下按鈕，即可立即展開內部量測與檢測作業。為了降低維護需求，這款智慧又精巧的解決方案採用封閉式 X 光管設計。
無需前處理，即可擷取 3D 數據
使用 METROTOM 1，您可透過非破壞性掃描來檢測內部結構與缺陷。啟動量測流程前無需任何零件前處理。當您掃描下一個零件時，也可以同時檢查或進行前一個零件的逆向工程，大幅提升效率。
多件零件同時掃描
同時量測多個零件是 METROTOM 1 最具效率的功能之一。其運作原理簡單：最大化量測空間的使用，達成高產能。其結果是每個零件的掃描時間更快，同時不犧牲品質。ZEISS INSPECT 軟體可自動分離並分析每個零件，快速生成檢測報告，讓結果一目了然。
檢查內部結構與缺陷
METROTOM 1 搭配 ZEISS INSPECT 可引導您逐步完成量測流程。透過掃描數據的體積視覺化與檢測功能，您可以全面掌握零件的所有尺寸，包括隱藏的部分。內部與外部結構全面掃描後，零件也能輕鬆進行逆向工程。
簡單高效，只需一次掃描。METROTOM 1 為您提供支援：
中小型零件的 3D 掃描
精準量測
品質檢測與控管
瑕疵品的深入分析
零件與 CAD 檔案的比對檢查
應用
無限的使用範圍
無論是中型或小型塑膠零件，使用 METROTOM 1 您的可能性無限：連接器、塑膠蓋、航太產業的蠟芯，任您所需。它是需要檢測中小批量零件企業的理想解決方案。強大且多功能。
品質控制與檢測
- 名義尺寸與實際零件的 CAD
- 比對
- 尺寸量測
- 零件任意深度的剖面檢查
- 分析壁厚分布
- 首件功能尺寸量測
模具與工具製造
- 透過掃描多個以不同參數
- 造的樣品，確保首件正確無誤
- 減少製程中的重複次數
- 以快速檢測多個零件，監生產流程
- 工具驗收後的實際數據擷取
- 零件變形補償
產品開發與設計
- 檢視高難度產品，如透明件與軟性聚合物
- 組裝件的功能與錯誤分析
- 非破壞性材料缺陷分析，例如氣孔、孔洞或裂縫
- 現有零件或零件幾何形狀的逆向工程
- 驗證設計成果
設備規格
| METROTOM 1 | |
| X 光源 | 160 kV |
| X 光探測器（像素） | 2.5k (2,500 x 2,500) |
| 量測體積 | 165 x 140 mm |
| 計量規格（最大允許誤差標準差，MPE SD） | 5 μm +L/100 |
| 外觀尺寸 | 寬 1750 mm × 高 1820 mm × 深 870 mm |
| 重量 | 2100 kg |
| 軟體 | ZEISS INSPECT |
| 體素尺寸（Voxel size） | 最低可達 32.6 μm |
軟體
由 ZEISS INSPECT 數位導引，達成最佳成效
METROTOM 1 搭載 ZEISS INSPECT 軟體，這是一款整合式、以使用者為中心的解決方案，也是 3D 計量領域的既有標準。強大的功能包括體積視覺化與檢測、尺寸計量、趨勢分析與比較、缺陷檢測與檢驗，讓您充分發揮系統的強大效能。
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